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    Quantitative X-ray Spectroscopy of Compound Semiconductor LASER

    Quantitative X-ray Spectroscopy of Compound Semiconductor LASER von Okano, Tetsuyuki, Tametoh, Sayoko, Arai, Mina, Kouzaki, Takashi, Yabuuchi, Yasufumi

    Veröffentlicht in Materia (Sendai. 1994)

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    TEM-EDS法による化合物半導体レーザの組成定量評価

    TEM-EDS法による化合物半導体レーザの組成定量評価 von 岡野, 哲之, 為藤, さよ子, 荒井, 美奈, 神前, 隆, 藪内, 康文

    Veröffentlicht in まてりあ

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