-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
-
9
-
10
-
11
On Shockley's 1952 Proceedings Of The IRE Paper
Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE
VolltextArtikel -
12
Trends in CMOS technology and application development
Veröffentlicht in Materials chemistry and physics
VolltextArtikel -
13
-
14
A perspective on the theory of MOSFET scaling and its impact
Veröffentlicht in IEEE Solid-State Circuits Society Newsletter
VolltextArtikel -
15
-
16
Electron trapping in SiO2 due to electron-beam deposition of aluminum
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
17
-
18
-
19
-
20