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(Invited) Intrinsic Reliability Assessment of 650V Rated AlGaN/GaN Based Power Devices: An Industry Perspective
von
Moens, Peter
,
Banerjee, Abhishek
,
Constant, Aurore
,
Coppens, Peter
,
Caesar, Markus
,
Li, Zilan
,
Vandeweghe, Steven
,
Declercq, Frederick
,
Padmanabhan, Balaji
,
Jeon, Woochul
,
Guo, Jia
,
Salih, Ali
,
Tack, Marnix
,
Meneghini, Matteo
,
Dalcanale, Stefano
,
Tajilli, A
,
Meneghesso, Gaudenzio
,
Zanoni, Enrico
,
Uren, Mike
,
Chatterjee, Indranil
,
Karboyan, Serge
,
Kuball, Martin
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ECS transactions
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(Invited) Intrinsic Reliability Assessment of 650V Rated AlGaN/GaN Based Power Devices: An Industry Perspective
von
Moens, Peter
,
Banerjee, Abhishek
,
Constant, Aurore
,
Coppens, Peter
,
Caesar, Markus
,
Li, Zilan
,
Vandeweghe, Steven
,
Declercq, Frederick
,
Padmanabhan, Balaji
,
Jeon, Woochul
,
Guo, Jia
,
Salih, Ali
,
Tack, Marnix
,
Meneghini, Matteo
,
Dalcanale, Stefano
,
Tajilli, A
,
Meneghesso, Gaudenzio
,
Zanoni, Enrico
,
Uren, Mike
,
Chatterjee, Indranil
,
Karboyan, Serge
,
Kuball, Martin
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Meeting abstracts (Electrochemical Society)
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