Suchergebnisse - TORTONESE, Marco

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Self-oscillating mode for frequency modulation noncontact atomic force microscopy von Giessibl, Franz J., Tortonese, Marco

Veröffentlicht in Applied physics letters

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Verification of computer simulation of photolithographic process von BLANQUIES RENE, TORTONESE MARCO

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STEERABLE STYLET von HALLER, Matthew I, TORTONESE, Marco, BEERLING, Timothy

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Verification of computer simulation of photolithographic process von BLANQUIES RENE, TORTONESE MARCO

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Verification of computer simulation of photolithographic process von Tortonese, Marco, Blanquies, Rene

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Steerable Stylet von BEERLING TIMOTHY, TORTONESE MARCO, HALLER MATTHEW I

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Steerable stylet von BEERLING TIMOTHY, TORTONESE MARCO, HALLER MATTHEW I

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STEERABLE STYLET von BEERLING, TIMOTHY, TORTONESE, MARCO, HALLER, MATTHEW I

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Battery-operated atomic force microscope von Furman, Burford J., Christman, Joseph, Kearny, Michael, Wojcik, Frank, Tortonese, Marco

Veröffentlicht in Review of scientific instruments

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STEERABLE STYLET von HALLER, Matthew I, TORTONESE, Marco, BEERLING, Timothy

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Cantilevers and tips for atomic force microscopy von Tortonese, M.

Veröffentlicht in IEEE engineering in medicine and biology magazine

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Calibration standard for a dual beam (FIB/SEM) machine von Tortonese, Marco, Nasser-Ghodsi, Mehran

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Calibration standard for a dual beam (FIB/SEM) machine von TORTONESE MARCO, NASSER-GHODSI MEHRAN

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ATOMIC FORCE MICROSCOPE von TORTONESE, MARCO, BEVIS, CHRISTOPER, F

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STEERABLE STYLET von BEERLING, TIMOTHY, TORTONESE, MARCO, HALLER, MATTHEW I

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Steerable Stylet von BEERLING TIMOTHY, TORTONESE MARCO, HALLER MATTHEW I

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Atomic force microscope von TORTONESE MARCO, BEVIS CHRISTOPHER F

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Atomic force microscope von Bevis, Christopher F, Tortonese, Marco

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Calibration standard for a dual beam (FIB/SEM) machine von TORTONESE MARCO, NASSER-GHODSI MEHRAN

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Calibration standard for a dual beam (FIB/SEM) machine von Tortonese, Marco, Nasser-Ghodsi, Mehran

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Self-oscillating mode for frequency modulation noncontact atomic force microscopy von Giessibl, Franz J., Tortonese, Marco

Verification of computer simulation of photolithographic process von BLANQUIES RENE, TORTONESE MARCO

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Verification of computer simulation of photolithographic process von BLANQUIES RENE, TORTONESE MARCO

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Steerable Stylet von BEERLING TIMOTHY, TORTONESE MARCO, HALLER MATTHEW I

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Battery-operated atomic force microscope von Furman, Burford J., Christman, Joseph, Kearny, Michael, Wojcik, Frank, Tortonese, Marco

STEERABLE STYLET von HALLER, Matthew I, TORTONESE, Marco, BEERLING, Timothy

Cantilevers and tips for atomic force microscopy von Tortonese, M.

Calibration standard for a dual beam (FIB/SEM) machine von Tortonese, Marco, Nasser-Ghodsi, Mehran

Calibration standard for a dual beam (FIB/SEM) machine von TORTONESE MARCO, NASSER-GHODSI MEHRAN

ATOMIC FORCE MICROSCOPE von TORTONESE, MARCO, BEVIS, CHRISTOPER, F

STEERABLE STYLET von BEERLING, TIMOTHY, TORTONESE, MARCO, HALLER, MATTHEW I

Steerable Stylet von BEERLING TIMOTHY, TORTONESE MARCO, HALLER MATTHEW I

Atomic force microscope von TORTONESE MARCO, BEVIS CHRISTOPHER F

Atomic force microscope von Bevis, Christopher F, Tortonese, Marco

Calibration standard for a dual beam (FIB/SEM) machine von TORTONESE MARCO, NASSER-GHODSI MEHRAN

Calibration standard for a dual beam (FIB/SEM) machine von Tortonese, Marco, Nasser-Ghodsi, Mehran

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