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A correlation study between different types of CDM testers and "real" manufacturing in-line leakage failures
von
Chaine, M.D.
,
Chen Teck Liong
,
Ho Fock San
Veröffentlicht in
IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology. Part A
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A PROCESS OF TESTING MEMORY PARTS AND EQUIPMENT FOR CONDUCTING THE TESTING
von
FOCK SAN HO
,
TECK LIONG CHEN
,
CHOON POH LOOI
,
KOK LAY LIM
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TEST BOARD AND PROCESS OF TESTING WIDE WORD MEMORYPARTS
von
NAN GUAN THIANG
,
MENG KIANG GOH
,
TECK LIONG CHEN
,
ABU BAKAR
,
CHOON POH LOOI
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Process of testing memory parts and equipment for conducting the testing
von
LIM
,
KOK LAY
,
HO
,
FOCK SAN
,
CHEN
,
TECK LIONG
,
LOOI
,
CHOON POH
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Test board and process of testing wide word memory parts
von
LIONG
,
CHEN TECK
,
GUAN
,
THIANG NAN
,
BAKAR
,
ABU
,
KIANG
,
GOH MENG
,
POH
,
LOOI CHOON
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