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RF power characteristics of SiGe HBTs at cryogenic temperatures
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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CMOS technology for MS/RF SoC
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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Effects of Mechanical Uniaxial Stress on SiGe HBT Characteristics
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
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Low-frequency noise properties of dynamic-threshold (DT) MOSFET's
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Spin dynamics of unit cells in magnetic random access memory
Veröffentlicht in IEEE transactions on magnetics
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