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Multiple scattering effects of MeV electrons in very thick amorphous specimens
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
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Axial geometrical aberration correction up to 5th order with N-SYLC
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
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Spherical aberration correction with threefold symmetric line currents
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
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Low-aberration optics for large-angle beam with unit core lenses
Veröffentlicht in Optik (Stuttgart)
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Microscopic tomography with ultra-HVEM and applications
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
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FIB-SEM and TEMT Observation of Highly Elastic Rubbery Material with Nanomatrix Structure
Veröffentlicht in Macromolecules
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