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Suchergebnisse - Szobolovszký, R.
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Rigorous channel temperature analysis verified for InAlN/AlN/GaN HEMT
von
Florovi, M
,
Szobolovszký, R
,
Ková, J
,
Ková, J
,
Chvála, A
,
Jacquet, J-C
,
Delage, S L
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Semiconductor science and technology
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AlGaN/GaN HEMT channel temperature determination utilizing external heater
von
Florovi, M
,
Szobolovszký, R
,
Ková, J
,
Ková, J
,
Chvála, A
,
Jacquet, J-C
,
Delage, S L
Veröffentlicht in
Semiconductor science and technology
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GaP nanocones covered with silver nanoparticles for surface-enhanced Raman spectroscopy
von
Laurenčíková, A.
,
Eliáš, P.
,
Hasenöhrl, S.
,
Kováč, J.
,
Szobolovszký, R.
,
Novák, J.
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Applied surface science
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Inaln
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Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Iop Publishing Journals
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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Science Citation Index Expanded (Web Of Science)
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Iopscience Extra
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Web Of Science
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Ingentaconnect
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Access Via Sciencedirect (Elsevier)
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Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
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