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Piezoresponse force spectroscopy of ferroelectric-semiconductor materials
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Extrinsic Size Effect in Piezoresponse Force Microscopy of Thin Films
Veröffentlicht in arXiv.org
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Piezoresponse Force Spectroscopy of Ferroelectric Materials
Veröffentlicht in arXiv.org
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High-reflection Mo/Be/Si multilayers for EUV lithography
Veröffentlicht in Optics letters
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