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Low Cost On-Line Testing Strategy for RF Circuits
Veröffentlicht in Journal of electronic testing
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A Statistical Sampler for a New On-Line Analog Test Method
Veröffentlicht in Journal of electronic testing
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Low Cost BIST for Static and Dynamic Testing of ADCs
Veröffentlicht in Journal of electronic testing
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INL and DNL estimation based on noise for ADC test
Veröffentlicht in IEEE transactions on instrumentation and measurement
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