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1
A study of hot-carrier-induced mismatch drift: a reliability issue for VLSI circuits
von
Yoonjong Huh
,
Yungkwon Sung
,
Kang, S.M.
Veröffentlicht in
IEEE journal of solid-state circuits
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2
Analysis of mechanisms for hot-carrier-induced VLSI circuit degradation
von
HUH, Y
,
YANG, D
,
L'YEE, H
,
SUNG, Y
Veröffentlicht in
Japanese Journal of Applied Physics
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3
Analysis of circuit degradation due to hot-carrier effects in 64Mb DRAMs
von
Huh, Yoonjong
,
Yang, Dooyoung
,
Sung, Yungkwon
Veröffentlicht in
Solid State Electronics
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4
Hot-carrier-induced gate capacitance variation and its impact on DRAM circuit functionality
von
Yoonjong Huh
,
Hyeokjae Lee
,
Jae-Gyung Ahn
,
Dooyoung Yang
,
Yungkwon Sung
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Tagungsbericht
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5
Hot-carrier-induced circuit degradation in actual DRAM
von
Yoonjong Huh
,
Dooyoung Yang
,
Hyungsoon Shin
,
Yungkwon Sung
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Japanese Journal Of Applied Physics
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Japanese Journal Of Applied Physics Part 1-Regular Papers Short Notes & Review Papers
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Japanese Journal Of Applied Physics, Part 1: Regular Papers And Short Notes And Review Papers
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Solid State Electronics
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Schlagworte
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Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
1400 : 2025
1400
2025
Quelle
Ieee Power & Energy Library
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Ieee Electronic Library (Iel)
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3
Ingentaconnect
3 Treffer
3
Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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2
Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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1
Iopscience Extra
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1
Elsevier Sciencedirect Journals Complete
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1
Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
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