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    A high-resolution measurement system for novel scanning thermal microscopy resistive nanoprobes

    A high-resolution measurement system for novel scanning thermal microscopy resistive nanoprobes von Wielgoszewski, Grzegorz, Sulecki, Przemysław, Janus, Paweł, Grabiec, Piotr, Zschech, Ehrenfried, Gotszalk, Teodor


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    Scanning thermal microscopy: A nanoprobe technique for studying the thermal properties of nanocomponents

    Scanning thermal microscopy: A nanoprobe technique for studying the thermal properties of nanocomponents von Wielgoszewski, Grzegorz, Sulecki, Przemysław, Gotszalk, Teodor, Janus, Paweł, Grabiec, Piotr, Hecker, Michael, Ritz, Yvonne, Zschech, Ehrenfried

    Veröffentlicht in Physica Status Solidi (b)

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    Scanning thermal microscopy: A nanoprobe technique for studying the thermal properties of nanocomponents : Semiconductor Surfaces and Interfaces in Materials Science

    Scanning thermal microscopy: A nanoprobe technique for studying the thermal properties of nanocomponents : Semiconductor Surfaces and Interfaces in Materials Science von WIELGOSZEWSKI, Grzegorz, SULECKI, Przemysław, GOTSZALK, Teodor, JANUS, Paweł, GRABIEC, Piotr, HECKER, Michael, RITZ, Yvonne, ZSCHECH, Ehrenfried


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    Krakow Archival Yearbook. VOL. 13 (2007)

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