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Comprehensive structural testing of ASIC macrocells, a comparative analysis
von
Sucar, H.R.
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Design of an LVCMOS high resolution frequency synthesizer
von
Lobato-Lopez, F.
,
Solis-Bustos, S.
,
Sucar, H.R.
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CrossCheck: an innovative testability solution
von
Chandra, S.
,
Pierce, K.
,
Srinath, G.
,
Sucar, H.R.
,
Kulkarni, V.
Veröffentlicht in
IEEE design & test of computers
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