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    Correlation of thermal-wave imaging to other analysis methods

    Correlation of thermal-wave imaging to other analysis methods von MAREK, J, STRAUSSER, Y. E

    Veröffentlicht in Applied physics letters

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    Characterization in Silicon Processing

    Characterization in Silicon Processing von Strausser, Yale

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    Submicron Auger spectroscopy study of reed contact failures

    Submicron Auger spectroscopy study of reed contact failures von Majumder, Kumar S., Strausser, Yale E.

    Veröffentlicht in Thin solid films

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    Power spectral densities: A multiple technique study of different Si wafer surfaces

    Power spectral densities: A multiple technique study of different Si wafer surfaces von Marx, Egon, Malik, Igor J., Strausser, Yale E., Bristow, Thomas, Poduje, Noel, Stover, John C.


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    The effect of surface treatment on the outgassing rates of 304 stainless steel: Yale E Strausser, Vacuum Research, Varian Associates, Palo Alto, California, USA

    The effect of surface treatment on the outgassing rates of 304 stainless steel: Yale E Strausser, Vacuum Research, Varian Associates, Palo Alto, California, USA

    Veröffentlicht in Vacuum

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    Atomic force microscopy enhances chemical mechanical polishing

    Atomic force microscopy enhances chemical mechanical polishing von Strausser, Yale E, Hetherington, Dale L

    Veröffentlicht in Semiconductor international

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    Scanning capacitance microscopy for carrier profiling in semiconductors

    Scanning capacitance microscopy for carrier profiling in semiconductors von ERICKSON, A. N, ADDERTON, D. M, STRAUSSER, Y. E, TENCH, R. J

    Veröffentlicht in Solid state technology

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    SCINTILLATION-TYPE ION DETECTOR EMPLOYING A SECONDARY EMITTER TARGET SURROUNDING THE ION PATH

    SCINTILLATION-TYPE ION DETECTOR EMPLOYING A SECONDARY EMITTER TARGET SURROUNDING THE ION PATH von YALE E. STRAUSSER

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    Scintillations-Ionendetektor

    Scintillations-Ionendetektor von E. STRAUSSER,YALE

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  10. 10
    Auger depth profiling of MNOS structures by ion sputtering

    Auger depth profiling of MNOS structures by ion sputtering von Johannessen, J.S., Helms, C.R., Spicer, W.E., Strausser, Y.E.


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    Characterization of polycrystalline silicon thin-film multilayers by variable angle spectroscopic ellipsometry

    Characterization of polycrystalline silicon thin-film multilayers by variable angle spectroscopic ellipsometry von Snyder, Paul G., Xiong, Yi-Ming, Woollam, John A., Krosche, Eric R., Strausser, Yale

    Veröffentlicht in Surface and interface analysis

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    Title Page

    Title Page von Strausser Yale

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    Index

    Index von Strausser Yale

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    Review of Outgassing Results

    Review of Outgassing Results von Strausser, Yale

    Veröffentlicht in SHINKU

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    Aluminum- and Copper-Based Conductors

    Aluminum- and Copper-Based Conductors von Strausser Yale

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    Tungsten-Based Conductors

    Tungsten-Based Conductors von Strausser Yale

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    STRAUSS, DISCIPLE DE NIETZSCHE? A propos d'une hypothèse récente sur le sens « caché » de l'œuvre de Leo Strauss

    STRAUSS, DISCIPLE DE NIETZSCHE? A propos d'une hypothèse récente sur le sens « caché » de l'œuvre de Leo Strauss von Tanguay, Daniel

    Veröffentlicht in Les études philosophiques

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    De Granet à Lévi‐Strauss. 3. La légende du Hollandais volé

    De Granet à Lévi‐Strauss. 3. La légende du Hollandais volé von HERAN, F

    Veröffentlicht in Social anthropology

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  19. 19
    L’expérience sensible et son devenir abstrait: comment deux amis ont lié d’amitié deux disciplines

    L’expérience sensible et son devenir abstrait: comment deux amis ont lié d’amitié deux disciplines von Revel, Nicole

    Veröffentlicht in Intersections (Toronto. 2006)

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  20. 20
    RICHARD STRAUSS À L'OEUVRE : LES PREMIÈRES ESQUISSES POUR SALOME

    RICHARD STRAUSS À L'OEUVRE : LES PREMIÈRES ESQUISSES POUR SALOME von Boulay, Jean-Michel

    Veröffentlicht in Intersections (Toronto. 2006)

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