High-field Fowler - Nordheim stress of n-type silicon carbide metal-oxide-semiconductor capacitors von Bano, E, Ouisse, T, Leonhard, C, Gölz, A, Kamienski, E G Stein von

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Charge trapping in dry and wet oxides on N-type 6H–SiC studied by Fowler–Nordheim charge injection von Stein von Kamienski, E. G., Portheine, F., Stein, J., Gölz, A., Kurz, H.

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Passivation of interface traps in MOS-devices on n- and p-type 6H-SiC von Stein von Kamienski, E.G., Leonhard, C., Scharnholz, S., Gölz, A., Kurz, H.

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High field and high temperature stress of n-SiC MOS capacitors von Bano, E., Ouisse, T., Leonhard, C., Gölz, A., Stein Von Kamienski, E.G.

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Long term stability of gate-oxides on n- and p-type silicon carbide studied by charge injection techniques von von Kamienski, E.G. Stein, Leonhard, C., Portheine, F., Gölz, A., Kurz, H.

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Band offsets and electronic structure of SiC/SiO2 interfaces von Afanas’ev, V. V., Bassler, M., Pensl, G., Schulz, M. J., Stein von Kamienski, E.

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Papierchromatographie in der Botanik von Beiss, U, Dörfel, H, Fujisawa, K, Hänsel, R, Hager, A, Hohl, H. R, Linskens, H. F, Machleidt, H, Makino, K, Marten, G, Os, G. A. J. van, Prijs, B, Ragetli, H. W. J, Romeike, A, Sanwal, B. D, Schweppe, H, Seiler, H, Sen, S. P, Stange, L, Kamienski, E. Stein von, Wachtmeister, C. A, Want, J. P. H. van der, Yamatodani, S

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Dependence of Channel Mobility on the Surface Step in Orientation in Planar 6H-SiC MOSFETs von Gölz, A., Leonhard, C., Kurz, H., Scharnholz, Sigo, Stein von Kamienski, E.

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Nonlinear optical mapping of silicon carbide polytypes in 6H-SiC epilayers von Meyer, C., Lüpke, G., Stein von Kamienski, E., Gölz, A., Kurz, H.

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Al-SiO2-Al sandwich microstrip lines for high-frequency on-chip interconnects von GONDERMANN, J, VON KAMIENSKI, E. G. S, ROSKOS, H. G, KURZ, H

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Nonlinear optical mapping of 3C-inclusions in 6H-SiC-epilayers von Meyer, C., Lüpke, G., Stein von Kamienski, E., Gölz, A., Kurz, H.

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Charge accumulation effects and microwave absorption of coplanar waveguides fabricated on high–resistivity Si with SiO2 insulation layer von Pfeifer, T., Heiliger, H.–M., Stein von Kamienski, E., Roskos, H. G., Kurz, H.

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Fabrication and characterization of freely positionable silicon-on-sapphire photoconductive probes von Pfeifer, T., Heiliger, H.-M., von Kamienski, E. Stein, Roskos, H. G., Kurz, H.

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Vertical silicon metal–semiconductor–metal photodetectors with buried CoSi2 contact von Hermanns, J. P., Rüders, F., Stein von Kamienski, E., Roskos, H. G., Kurz, H., Hollricher, O., Buchal, C., Mantl, S.

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Heterobarrier photodiode MSM structures with subpicosecond temporal resolution von Averin, S V, Kamienski, E Stein von, Roskos, H G, Kersting, R, Pletner, J, Geelen, H-J, Kohl, A, Spangenberg, B, Leo, K, Kurz, H, Hollricher, O

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High-frequency on-wafer testing with freely positionable silicon-on-sapphire photoconductive probes von Pfeifer, T., Heiliger, H.-M., von Kamienski, E.S., Roskos, H.G., Kurz, H.

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Papierchromatographie in der Botanik

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Organische Basen von Von Kamienski, E. Stein

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Theorie der Papierchromatographie von van Os, G. A. J.

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Kohlenhydrate von Stange, L.

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