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Suchergebnisse - Spyronasios, A D
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Wavelet Analysis for the Detection of Parametric and Catastrophic Faults in Mixed-Signal Circuits
von
Spyronasios, A D
,
Dimopoulos, M G
,
Hatzopoulos, A A
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IEEE transactions on instrumentation and measurement
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Circuit Implementation of a Supply Current Spectrum Test Method
von
Dimopoulos, M G
,
Spyronasios, A D
,
Papakostas, D K
,
Konstantinou, D K
,
Hatzopoulos, A A
Veröffentlicht in
IEEE transactions on instrumentation and measurement
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Testing Parametric and Catastrophic Faults in Mixed-Signal Integrated Circuits Using Wavelets
von
Spyronasios, A D
,
Dimopoulos, M G
,
Papadopoulos, N P
,
Hatzopoulos, A A
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Wavelet energy-based Mahalanobis distance metric for testing analog and mixed-signal circuits
von
Dimopoulos, M G
,
Spyronasios, A D
,
Hatzopoulos, A A
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5
Wavelet analysis of measurements for on-line testing analog & mixed-signal circuits
von
Dimopoulos, M G
,
Spyronasios, A D
,
Hatzopoulos, A A
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Efficient testing of an optical feedback pixel driver using wavelet analysis
von
Dimopoulos, M G
,
Spyronasios, A D
,
Papadopoulos, N P
,
Hatzopoulos, A A
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Simulation and measurements for testing an emergency luminaire circuit
von
Konstantinou, D.K.
,
Dimopoulos, M.G.
,
Papakostas, D.K.
,
Spyronasios, A.D.
,
Hatzopoulos, A.A.
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Power supply current testing in the production line of emergency luminaire circuits
von
Dimopoulos, M.G.
,
Papakostas, D.K.
,
Spyronasios, A.D.
,
Hatzopoulos, A.A.
,
Konstantinou, D.K.
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9
Multiple Parametric Circuit Analysis Tool for Detectability Estimation
von
Dimopoulos, M.G.
,
Papakostas, D.K.
,
Konstantinou, D.K.
,
Spyronasios, A.D.
,
Hatzopoulos, A.A.
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