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Comments on 'A compact thermal noise model for the investigation of soft error rates in MOS VLSI digital circuits'
von
Kolodziejski, J.F.
,
Spiralski, L.
Veröffentlicht in
IEEE journal of solid-state circuits
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Uncertainty In Measuring Noise Parameters Of a Communication Receiver
von
Korcz, Karol
,
Palczynska, Beata
,
Spiralski, Ludwik
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