Complex material analysis of a TiC coating produced by hot pressing with optical light microscopy, EDS, XRD, GDOES and EBSD von Grad, Marius, Honig, Hauke, Diemar, Andreas, Flock, Dominik, Spieß, Lothar

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Effect of thermoplastic morphology on mechanical properties in laser-assisted joining of polyamide 6 with aluminum von Schricker, Klaus, Bergmann, Jean Pierre, Hopfeld, Marcus, Spieß, Lothar

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Effect of Carbon Content on the Phase Composition, Microstructure and Mechanical Properties of the TiC Layer Formed in Hot-Pressed Titanium-Steel Composites von Grad, Marius, Zentgraf, Jan, Schultheiss, Ulrich, Esper, Lukas, Diemar, Andreas, Noster, Ulf, Spiess, Lothar

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Preparation and gas-sensing properties of very thin sputtered NiO films von Hotovy, Ivan, Rehacek, Vlastimil, Kemeny, Martin, Ondrejka, Peter, Kostic, Ivan, Mikolasek, Miroslav, Spiess, Lothar

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Study of Annealed NiO Thin Films Sputtered on Unheated Substrate von Hotovy, Ivan, Liday, Jozef, Spiess, Lothar, Sitter, Helmut, Vogrincic, Peter

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Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker von Spieß, Lothar, Teichert, Gerd, Schwarzer, Robert, Behnken, Herfried, Genzel, Christoph

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Moderne Rontgenbeugung: Rontgendiffraktometrie fur Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker von Spie, Lothar, Teichert, Gerd, Schwarzer, Robert, Behnken, Herfried, Genzel, Christoph

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Komplexe Materialprüfung und Schadensanalyse von Teichert, Gerd, Wilke, Marcus, Spieß, Lothar, Schaaf, Peter

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Structural Evolution of Sputtered Indium Oxide Thin Films von Hotový, Ivan, Kups, Thomas, Hotový, Juraj, Liday, Jozef, Búc, Dalibor, Čaplovičová, Mária, Řeháček, Vlastimil, Sitter, Helmut, Simbrunner, Clemens, Bonnani, Alberta, Spiess, Lothar

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Insertion of C60 into multi-wall carbon nanotubes: a synthesis of C60@MWCNT von FRÖHLICH, Toni, SCHARFF, Peter, SCHLIEFKE, Willy, ROMANUS, Henry, GUPTA, Vinay, SIEGMUND, Carmen, AMBACHER, Oliver, SPIESS, Lothar

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Insertion of C 60 into multi-wall carbon nanotubes––a synthesis of C 60@MWCNT von Fröhlich, Toni, Scharff, Peter, Schliefke, Willy, Romanus, Henry, Gupta, Vinay, Siegmund, Carmen, Ambacher, Oliver, Spiess, Lothar

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Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker von Spieß, Lothar, Teichert, Gerd, Schwarzer, Robert, Behnken, Herfried, Genzel, Christoph

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Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker von Spieß, Lothar, Schwarzer, Robert, Behnken, Herfried, Teichert, Gerd

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Growth of 3C-(Si1-xC1-y)Gex+y Layers on 4H-SiC by Molecular Beam Epitaxy von Ambacher, Oliver, Pezoldt, Joerg, Spieß, Lothar, Weih, Petia, Stauden, Thomas, Romanus, Henry

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High-Resolution XRD Investigations of the Strain Reduction in 3C-SiC Thin Films Grown on Si (111) Substrates von Ambacher, Oliver, Stauden, Thomas, Hermann, M., Cimalla, Volker, Pezoldt, Joerg, Förster, Christian, Eickhoff, M., Spieß, Lothar, Masri, Pierre M., Weih, Petia, Romanus, Henry

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Schichten über Schichten von Schaaf, Peter, Spieß, Lothar, Kups, Thomas, Romanus, Henry, Grieseler, Rolf, Hopfeld, Marcus, Wilke, Marcus, Stauden, Thomas, Lorenz, David, Fischer, Andreas

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The Influence of Foreign Atoms on the early Stages of SiC Growth on (111)Si von Ecke, Gernot, Wöhner, T., Stauden, Thomas, Rouhani Laridjani, M., Averous, M., Schaefer, J.A., Pieterwas, R., Pezoldt, Joerg, Spieß, Lothar, Vida, György

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Röntgen kann noch mehr von Spieß, Lothar, Spit, Lothar

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Dieœ Materialcharakterisierungsverfahren Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) und Glimmentladungsspektroskopie (GDOES) im Alltag eines Werkstoffprüflabors von Spieß, Lothar, Spit, Lothar

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Materialcharakterisierung an Messing-Legierungen, Computertomographie zur Gefügebeurteilung von Spieß, Lothar, Spit, Lothar

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