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Moderne Rontgenbeugung: Rontgendiffraktometrie fur Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
von
Spie, Lothar
,
Teichert, Gerd
,
Schwarzer, Robert
,
Behnken, Herfried
,
Genzel, Christoph
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Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker
von
Spieß, Lothar
,
Teichert, Gerd
,
Schwarzer, Robert
,
Behnken, Herfried
,
Genzel, Christoph
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Atomic force microscopy investigations of rapid thermal carbonized silicon
von
Romanus, Henry
,
Cimalla, Volker
,
Kromka, Alexander
,
Scheiner, Jörg
,
Spieβ, Lothar
,
Pezoldt, Jörg
Veröffentlicht in
Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology
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Silicon Carbide
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Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
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