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    Modeling and characterization of electrical effects of Ge integration in Metal/High-k/SiGe MOS structures

    Modeling and characterization of electrical effects of Ge integration in Metal/High-k/SiGe MOS structures von Soussou, Assawer

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    Dissertation

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    (Invited) In Depth Study of Ge Impact on Advanced SiGe PMOS Transistors

    (Invited) In Depth Study of Ge Impact on Advanced SiGe PMOS Transistors von Soussou, Assawer, Cassé, Mikael, Reimbold, Gilles, Leroux, Charles, Andrieu, François, Rideau, Denis, Delaye, Vincent, Juhel, Marc, Berthelon, Remy, Ghibaudo, Gerard, Tavernier, Clément

    Veröffentlicht in ECS transactions

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    In Depth Study of Ge Impact on Advanced SiGe PMOS Transistors

    In Depth Study of Ge Impact on Advanced SiGe PMOS Transistors von Soussou, Assawer, Cassé, Mikael, Reimbold, Gilles, Leroux, Charles, Andrieu, François, Rideau, Denis, Delaye, Vincent, Juhel, Marc, Berthelon, Remy, Ghibaudo, Gerard, Tavernier, Clément


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