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Development of an Advanced TDDB Analysis Model for Temperature Dependency
von
Park, Kiron
,
Park, Keonho
,
Im, Sujin
,
Hong, SeungEui
,
Son, Kwonjoo
,
Jeon, Jongwook
Veröffentlicht in
Electronics (Basel)
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Reliability Analysis Framework for Time Dependent Dielectric Breakdown
von
Park, Kiron
,
Im, Sujin
,
Park, Keonho
,
Son, Kwonjoo
,
Hong, SeungEui
,
Jeon, Jongwook
Veröffentlicht in
Journal of semiconductor technology and science
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