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Effects of ionizing radiation on oxidized silicon surfaces and planar devices
Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE
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Minority carrier injection of metal-silicon contacts
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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Fowler-Nordheim tunneling in SiO 2 films
Veröffentlicht in Solid state communications
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A model for radiation damage in metal-oxide-semiconductor structures
Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE
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Fowler-Nordheim tunneling into thermally grown SiO 2
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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6
Fowler-Nordheim tunneling into thermally grown SiO2
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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7
Fowler-Nordheim tunneling in SiO2 films
Veröffentlicht in Solid state communications
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Barrier energies in metal-silicon dioxide-silicon structures
Veröffentlicht in Solid state communications
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Ion migration and space-charge polarization in glass films
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Radiation Effects on Silicon Schottky Barriers
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Creation of fast surface states by ionizing radiation
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Barrier energies in MOS structures
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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