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Computing self and mutual capacitance and inductance using even and odd TDR measurements
von
Smolyansky, D.A.
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Corey, S.D.
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IC package and interconnect characterization using enhanced accuracy time domain reflectometry
von
Smolyansky, D.A.
,
Diamond, S.K.
,
Pepper, S.H.
,
Tripathi, V.K.
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