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Stress analysis of Si1-xGex embedded source/drain junctions
Veröffentlicht in Materials science in semiconductor processing
VolltextArtikel -
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Leakage current study of Si1-xCx embedded source/drain junctions
Veröffentlicht in Applied surface science
VolltextArtikel -
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Leakage current study of Si 1− x C x embedded source/drain junctions
Veröffentlicht in Applied surface science
VolltextArtikel -
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