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Increasing the range of unambiguity in step-height measurement with multiple-wavelength interferometry--application to absolute long gauge block measurement
von
Decker, Jennifer E
,
Miles, John R
,
Madej, Alan A
,
Siemsen, Ralph F
,
Siemsen, Klaus J
,
de Bonth, Sebastian
,
Bustraan, Krijn
,
Temple, Sara
,
Pekelsky, James R
Veröffentlicht in
Applied Optics
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