Suchergebnisse - Sidor, Zuzanna | OPAC THWS

1

Manufacturing method for three-dimensional design technology of semiconductor devices von EKIELSKI MAREK, SIDOR ZUZANNA, JUCHNIEWICZ MARCIN

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
2

Sposób wytwarzania tranzystora HEMT von EKIELSKI MAREK, SIDOR ZUZANNA, JUCHNIEWICZ MARCIN

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
3

Influence of capping SiO2 layer on stability of NiO thin film under thermal stress von Grochowski, J., Guziewicz, M., Borysiewicz, M., Sidor, Z., Kruszka, R., Piotrowska, A.

Volltext
Tagungsbericht

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
4

Sposób wykonania wzorów trójwymiarowych dla technologii przyrzadów pólprzewodnikowych von EKIELSKI MAREK, SIDOR ZUZANNA, JUCHNIEWICZ MARCIN

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
5

Sposób wytwarzania tranzystora HEMT von EKIELSKI MAREK, SIDOR ZUZANNA, JUCHNIEWICZ MARCIN

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
6

Application of SU8 polymer in waveguide interferometer ammonia sensor von Bednorz, Mateusz, Kamińska, Eliana, Piotrowska, Anna, Pustelny, Tadeusz, Sidor, Zuzanna, Urbańczyk, Marian, Hermitage, Tadeusz

Volltext bestellen

Web Resource

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in: