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Quasi-2D Surface-Potential-Based Critical Length for Drift-Diffusion
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Physics-based single-piece charge model for strained-Si MOSFETs
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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Source-drain symmetry in unified regional MOSFET model
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
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