Suchergebnisse - Shofner, Terri | OPAC THWS

1

Method of thinning an electron transparent thin film membrane on a TEM grid using a focused ion beam von SHOFNER TERRI L

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
2

Apparatus for scanning a crystalline sample and associated methods von Elshot, Kim, Drown, Jennifer, Houge, Erik, Shofner, Terri, Cheung, Tingkwan

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
3

METHOD OF DETERMINING THE SHAPE OF A PROBE FOR A STYLUS PROFILOMETER von Houge, Erik, Bindell, Jeffrey, Plew, Larry, Shofner, Terri, Stevie, Fred

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
4

Apparatus for scanning a crystalline sample and associated methods von DROWN JENNIFER LYNN, HOUGE ERIK CHO, CHEUNG TINGKWAN, ELSHOT KIM, SHOFNER TERRI LYNN

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
5

Apparatus for scanning a crystalline sample and associated methods von Drown, Jennifer Lynn, Elshot, Kim, Houge, Erik Cho, Shofner, Terri Lynn, Cheung, Tingkwan

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
6

Apparatus for scanning a crystalline sample and associated methods von DROWN JENNIFER LYNN, HOUGE ERIK CHO, CHEUNG TINGKWAN, ELSHOT KIM, SHOFNER TERRI LYNN

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
7

Probe for scanning probe microscopy and related methods von Bindell, Jeffrey Bruce, Houge, Erik Cho, Plew, Larry E, Shofner, Terri Lynn, Stevie, Fred Anthony

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
8

Probe for scanning probe microscopy and related methods von PLEW LARRY E, HOUGE ERIK CHO, STEVIE FRED ANTHONY, BINDELL JEFFREY BRUCE, SHOFNER TERRI LYNN

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
9

METHOD OF DETERMINING THE SHAPE OF A PROBE FOR A STYLUS PROFILOMETER von PLEW LARRY E, HOUGE ERIK CHO, STEVIE FRED ANTHONY, BINDELL JEFFREY BRUCE, SHOFNER TERRI LYNN

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
10

Method of mapping a surface using a probe for stylus nanoprofilometry having a non-circular cross-section von PLEW LARRY E, STEVIE FREDERICK A, HOUGE ERIK C, BINDELL JEFFREY B, SHOFNER TERRI L

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in: