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Effect of lattice constant on piezoelectric constant d33 in PZT materials (0.02)Bi0.5K0.5HfO3 (0.025)BaZrO3 (0.955)K0.48Na0.52Nb0.9Sb0.1O3 von Zeng, Lihaowen, Rabie, Benioub, Sho, Harako, Hidekazu, Kobatake, Kenji, Itaka, Hiorshi, Kamiya

Veröffentlicht in JSAP Annual Meetings Extended Abstracts

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OPTICAL CONNECTOR PROTECTION STRUCTURE AND CONNECTING DEVICE von HARAKO SHO

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ELECTRICAL CONTACT STRUCTURE OF ELECTRICAL CONTACT, AND ELECTRICAL CONNECTION DEVICE von KAMIYA HIROSHI, HARAKO SHO

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PROBE UNIT von NARITA SATOSHI, HARAKO SHO, FUKUSHI JUKIYA

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OPTICAL PROBE, OPTICAL PROBE ARRAY, OPTICAL PROBE CARD, AND METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL PROBE von OKUDA MICHITAKA, SAITO YUKI, HARAKO SHO, FUKUSHI JUKIYA

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PROBE AND ELECTRICAL CONNECTION DEVICE von TANAKA SHINJI, NARITA TOSHIO, HARAKO SHO, KASAI YUKI

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MEASUREMENT SYSTEM von OKUDA MICHITAKA, SAITO YUKI, NARITA TOSHIO, HARAKO SHO, FUKUSHI JUKIYA

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ELECTRICAL CONNECTION DEVICE von OTABE NOBORU, KAMIYA HIROSHI, FUKAMI YOSHIYUKI, MIZUTANI SHOGO, HARAKO SHO

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MEASUREMENT SYSTEM AND MEASUREMENT METHOD von OKUDA MICHITAKA, SAITO YUKI, NARITA TOSHIO, TAKEYA TOSHINAGA, HARAKO SHO, FUKUSHI JUKIYA, SAITO TOMOKAZU

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OPTICAL PROBE, OPTICAL PROBE ARRAY, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD von OKUDA MICHITAKA, SAITO YUKI, SATO MINORU, TAKEYA TOSHINAGA, NARITA TOSHIO, HARAKO SHO, FUKUSHI JUKIYA

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