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Reduction of Silicon Vidicon Dark Current by HCI Oxidation
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Silicon Wafer Annealing Effect in Loop Defect Generation
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Dislocation Etch Pits on Solution Grown Gallium Phosphide
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Crossed-Grid Dislocations in (001)-Oriented Silicon Crystals
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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