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Microscopic Examination of SiO2/4H-SiC Interfaces
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Epitaxial lateral overgrowth of r -plane α-Ga2O3 with stripe masks along ⟨1¯21
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Reverse Characteristics of a 4H-SiC Schottky Barrier Diode
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Progress in α-Ga2O3 for practical device applications
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Nitridation Effects of Gate Oxide on Channel Properties of SiC Trench MOSFETs
Veröffentlicht in Materials science forum
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