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Extraction of substrate parameters for RF MOSFETs based on four-port measurement
von
WU, Shih-Dao
,
HUANG, Guo-Wei
,
CHEN, Kun-Ming
,
CHANG, Chun-Yen
,
TSENG, Hua-Chou
,
HSU, Tsun-Lai
Veröffentlicht in
IEEE microwave and wireless components letters
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Modeling the substrate effect of RF MOSFET's based on four-port measurement
von
Shih-Dao Wu
,
Guo-Wei Huang
,
Kuo-hsiang Liao
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