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Characteristic length and time in electromigration
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Injection into insulators in the presence of space charge
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Impact ionization and positive charge in thin SiO2 films
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Determination of breakdown rates and defect densities in SiO2
Veröffentlicht in Thin solid films
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Determination of breakdown rates and defect densities in SiO 2
Veröffentlicht in Thin solid films
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Distribution of dopant in SiO sub 2 - Si
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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