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3D position and pose measurement based on coded light field
Veröffentlicht in IET image processing
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Modeling a shared-load k-out-of-n:G system
Veröffentlicht in IEEE transactions on reliability
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Reliability model of cold standby systems with built-in-test
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Markov model for k-out-of-n:G systems with built-in-test
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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