Preparation and high-temperature performance of Sc2O3–Y2O3 co-stabilized ZrO2 thermal barrier coatings von Zu, J.H., Gao, Y., Liu, D., Luo, W.F., Feng, Z., Bao, Y., Shang, Q.Y., Bai, Y., Fan, W., Wang, Y., Yu, F.L.

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Spherical nanocrystalline ScYSZ thermal barrier material by a novel supersonic plasma spheroidization method: Simple synthesis and excellent performance von Zu, J.H., Liu, X., Liu, D., Feng, Z., Gao, Y., Luo, W.F., Bao, Y., Shang, Q.Y., Fan, W., Wang, Y., Bai, Y.

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Thermal model and temperature field in rail grinding process based on a moving heat source von Zhang, Z.Y., Shang, W., Ding, H.H., Guo, J., Wang, H.Y., Liu, Q.Y., Wang, W.J.

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Leaf and Stem Rot of Tobacco ( Nicotiana tabacum ) Caused by Rhizopus oryzae in Closed Curing Barns in Guizhou Province of China von Wang, H.C., Huang, Y.F., Tang, X.G., Cai, L.T., Chen, Q.Y., Wang, M.S., Shang, S.H.

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Investigation of the thermal conductivity of diamond film on aluminum nitride ceramic von LIAO, Y, FANG, R. C, Z.Y.YE, SHANG, N. G, HAN, S. J, SHAO, Q. Y, JI, S. Z

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Direct measurement of the branching fraction for the decay of D + → K ¯ 0 e + ν e and determination of Γ ( D 0 → K − e + ν e ) / Γ ( D + → K ¯ 0 e + ν e ) von Ablikim, M., Bai, J.Z., Ban, Y., Bian, J.G., Cai, X., Chang, J.F., Chen, H.F., Chen, H.S., Chen, H.X., Chen, J.C., Chen, Jin, Chen, Jun, Chen, M.L., Chen, Y.B., Chi, S.P., Chu, Y.P., Cui, X.Z., Dai, H.L., Dai, Y.S., Deng, Z.Y., Dong, L.Y., Du, S.X., Du, Z.Z., Fang, J., Fang, S.S., Fu, C.D., Fu, H.Y., Gao, C.S., Gao, Y.N., Gong, M.Y., Gong, W.X., Gu, S.D., Guo, Y.N., Guo, Y.Q., He, K.L., He, M., He, X., Heng, Y.K., Hu, H.M., Hu, T., Huang, L., Huang, X.P., Ji, X.B., Jia, Q.Y., Jiang, C.H., Jiang, X.S., Jin, D.P., Jin, S., Jin, Y., Lai, Y.F., Li, F., Li, G., Li, H.H., Li, J., Li, J.C., Li, Q.J., Li, R.B., Li, R.Y., Li, S.M., Li, W.G., Li, X.L., Li, X.Q., Li, X.S., Liang, Y.F., Liao, H.B., Liu, C.X., Liu, F., Liu, Fang, Liu, H.M., Liu, J.B., Liu, J.P., Liu, R.G., Liu, Z.A., Liu, Z.X., Lu, F., Lu, G.R., Lu, J.G., Luo, C.L., Luo, X.L., Ma, F.C., Ma, J.M., Ma, L.L., Ma, Q.M., Ma, X.Y., Mao, Z.P., Mo, X.H., Nie, J., Nie, Z.D., Peng, H.P., Qi, N.D., Qian, C.D., Qin, H., Qiu, J.F., Ren, Z.Y., Rong, G., Shan, L.Y., Shang, L., Shen, D.L., Shen, X.Y., Sheng, H.Y.

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Measurement of cross sections for D 0 D ¯ 0 and D + D − production in e + e − annihilation at s = 3.773   GeV von Ablikim, M., Bai, J.Z., Ban, Y., Bian, J.G., Cai, X., Chang, J.F., Chen, H.F., Chen, H.S., Chen, H.X., Chen, J.C., Chen, Jin, Chen, Jun, Chen, M.L., Chen, Y.B., Chi, S.P., Chu, Y.P., Cui, X.Z., Dai, H.L., Dai, Y.S., Deng, Z.Y., Dong, L.Y., Du, S.X., Du, Z.Z., Fang, J., Fang, S.S., Fu, C.D., Fu, H.Y., Gao, C.S., Gao, Y.N., Gong, M.Y., Gong, W.X., Gu, S.D., Guo, Y.N., Guo, Y.Q., He, K.L., He, M., He, X., Heng, Y.K., Hu, H.M., Hu, T., Huang, L., Huang, X.P., Ji, X.B., Jia, Q.Y., Jiang, C.H., Jiang, X.S., Jin, D.P., Jin, S., Jin, Y., Lai, Y.F., Li, F., Li, G., Li, H.H., Li, J., Li, J.C., Li, Q.J., Li, R.B., Li, R.Y., Li, S.M., Li, W.G., Li, X.L., Li, X.Q., Li, X.S., Liang, Y.F., Liao, H.B., Liu, C.X., Liu, F., Liu, Fang, Liu, H.M., Liu, J.B., Liu, J.P., Liu, R.G., Liu, Z.A., Liu, Z.X., Lu, F., Lu, G.R., Lu, J.G., Luo, C.L., Luo, X.L., Ma, F.C., Ma, J.M., Ma, L.L., Ma, Q.M., Ma, X.Y., Mao, Z.P., Mo, X.H., Nie, J., Nie, Z.D., Peng, H.P., Qi, N.D., Qian, C.D., Qin, H., Qiu, J.F., Ren, Z.Y., Rong, G., Shan, L.Y., Shang, L., Shen, D.L., Shen, X.Y., Sheng, H.Y.

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Direct measurements of the branching fractions for D 0 → K − e + ν e and D 0 → π − e + ν e and determinations of the form factors f + K ( 0 ) and f + π ( 0 ) von Ablikim, M., Bai, J.Z., Ban, Y., Bian, J.G., Cai, X., Chang, J.F., Chen, H.F., Chen, H.S., Chen, H.X., Chen, J.C., Chen, Jin, Chen, Jun, Chen, M.L., Chen, Y.B., Chi, S.P., Chu, Y.P., Cui, X.Z., Dai, H.L., Dai, Y.S., Deng, Z.Y., Dong, L.Y., Du, S.X., Du, Z.Z., Fang, J., Fang, S.S., Fu, C.D., Fu, H.Y., Gao, C.S., Gao, Y.N., Gong, M.Y., Gong, W.X., Gu, S.D., Guo, Y.N., Guo, Y.Q., He, K.L., He, M., He, X., Heng, Y.K., Hu, H.M., Hu, T., Huang, L., Huang, X.P., Ji, X.B., Jia, Q.Y., Jiang, C.H., Jiang, X.S., Jin, D.P., Jin, S., Jin, Y., Lai, Y.F., Li, F., Li, G., Li, H.H., Li, J., Li, J.C., Li, Q.J., Li, R.B., Li, R.Y., Li, S.M., Li, W.G., Li, X.L., Li, X.Q., Li, X.S., Liang, Y.F., Liao, H.B., Liu, C.X., Liu, F., Liu, Fang, Liu, H.M., Liu, J.B., Liu, J.P., Liu, R.G., Liu, Z.A., Liu, Z.X., Lu, F., Lu, G.R., Lu, J.G., Luo, C.L., Luo, X.L., Ma, F.C., Ma, J.M., Ma, L.L., Ma, Q.M., Ma, X.Y., Mao, Z.P., Mo, X.H., Nie, J., Nie, Z.D., Peng, H.P., Qi, N.D., Qian, C.D., Qin, H., Qiu, J.F., Ren, Z.Y., Rong, G., Shan, L.Y., Shang, L., Shen, D.L., Shen, X.Y., Sheng, H.Y.

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Time-average shearography in vibration analysis von Toh, S.L., Tay, C.J., Shang, H.M., Lin, Q.Y.

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Direct determination of second-order derivatives in plate bending using multiple-exposure shearography von Tay, C.J., Toh, S.L., Shang, H.M., Lin, Q.Y.

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