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Influence of Hole Current Crowding on Snapback Breakdown in Multi-Finger MOSFETs
Veröffentlicht in IEEE access
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A Steep-Slope Phenomenon by Gate Charge Pumping in a MOSFET
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Self-Heating Effects in 3-D Vertical-NAND (V-NAND) Flash Memory
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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