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    Smart Electrical Screening Methodology for Channel Hole Defects of 3D Vertical NAND (VNAND) Flash Memory

    Smart Electrical Screening Methodology for Channel Hole Defects of 3D Vertical NAND (VNAND) Flash Memory von Kim, Beomjun, Seo, Gyeongseob, Kim, Myungsuk

    Veröffentlicht in Eng (Basel, Switzerland)

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    AERO: Adaptive Erase Operation for Improving Lifetime and Performance of Modern NAND Flash-Based SSDs

    AERO: Adaptive Erase Operation for Improving Lifetime and Performance of Modern NAND Flash-Based SSDs von Cho, Sungjun, Kim, Beomjun, Cho, Hyunuk, Seo, Gyeongseob, Mutlu, Onur, Kim, Myungsuk, Park, Jisung

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    AERO: Adaptive Erase Operation for Improving Lifetime and Performance of Modern NAND Flash-Based SSDs

    AERO: Adaptive Erase Operation for Improving Lifetime and Performance of Modern NAND Flash-Based SSDs von Cho, Sungjun, Kim, Beomjun, Cho, Hyunuk, Seo, Gyeongseob, Mutlu, Onur, Kim, Myungsuk, Park, Jisung

    Veröffentlicht in arXiv.org

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