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    Analysis of Double Gaussian Distribution on Barrier Inhomogeneity in a Au/n-4H SiC Schottky Diode

    Analysis of Double Gaussian Distribution on Barrier Inhomogeneity in a Au/n-4H SiC Schottky Diode von Gullu, H. H., Seme Sirin, D., Yıldız, D. E.

    Veröffentlicht in Journal of electronic materials

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