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(Invited) Fine Focused Ion Beams
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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High current density Ga+ implantations into Si
Veröffentlicht in Applied physics letters
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A high-intensity scanning ion probe with submicrometer spot size
Veröffentlicht in Applied physics letters
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GaAs MESFET fabrication using maskless ion implantation
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Electric propulsion design optimization methodology
Veröffentlicht in Journal of spacecraft and rockets
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Analysis of the expected thrust misalignment of Kaufman thrusters
Veröffentlicht in Journal of spacecraft and rockets
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High resolution sputtering using a focused ion beam
Veröffentlicht in Thin solid films
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VIA-1 focused-ion-beam processes for device fabrication
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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TA-A7 Ga implantation into Si at ultra-high dose rates
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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A 100-mA Low-Emittance Ion Source for Ion-Beam Fusion
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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High Current Density Ga+ Implantations Into Silicon
Veröffentlicht in Applied physics letters
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