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    Mating Sensitivity Analysis and Statistical Verification for Efficient Yield Estimation

    Mating Sensitivity Analysis and Statistical Verification for Efficient Yield Estimation von Seghaier, Ibtissem, Zaki, Mohamed H., Tahar, Sofiene


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    Intertwined Global Optimization Based Reachability Analysis

    Intertwined Global Optimization Based Reachability Analysis von Seghaier, Ibtissem, Tahar, Sofiène


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    Statistical Run-Time Verification of Analog Circuits in Presence of Noise and Process Variation

    Statistical Run-Time Verification of Analog Circuits in Presence of Noise and Process Variation von Narayanan, Rajeev, Seghaier, Ibtissem, Zaki, Mohamed H., Tahar, Sofiene


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