Suchergebnisse - Scoffone, Karen F | OPAC THWS

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Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system von LACOMB LLOYD J.JR, STEHLE JEAN-LOUIS, SCOFFONE KAREN F, ZAHORSKI DORIAN, CHEN XING, PIWONKA-CORLE TIMOTHY R, REY JOHN-PIERRE

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Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system von STEHLE JEAN-LOUIS, LACOMB LLOYD J, SCOFFONE KAREN F, ZAHORSKI DORIAN, REY JEAN-PIERRE, CHEN XING, PIWONKA-CORLE TIMOTHY R

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Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system von Piwonka-Corle, Timothy R, Scoffone, Karen F, Chen, Xing, Lacomb, Jr., Lloyd J, Stehle, Jean-Louis, Zahorski, Dorian, Rey, John-Pierre

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Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system von STEHLE, JEAN-LOUIS, SCOFFONE, KAREN F, LACOMB, JR., LLOYD J, ZAHORSKI, DORIAN, PIWONKA-CORLE, TIMOTHY R, CHEN, XING, REY, JEAN-PIERRE

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