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Geometric error measurement and compensation of machines—An update
Veröffentlicht in CIRP annals
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Error mapping of CMMs and machine tools by a single tracking interferometer
Veröffentlicht in CIRP annals
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Optical Methods for Dimensional Metrology in Production Engineering
Veröffentlicht in CIRP annals
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Recent developments in dimensional metrology for microsystem components
Veröffentlicht in Microsystem technologies
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