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Charge Carrier Inversion in a Doped Thin Film Organic Semiconductor Island
Veröffentlicht in ACS nano
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Sensitivity measurement of a cantilever-based surface stress sensor
Veröffentlicht in The Journal of chemical physics
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Kelvin Probe Force Microscopy by Dissipative Electrostatic Force Modulation
Veröffentlicht in Physical review applied
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Charge carrier inversion in a doped thin film organic semiconductor island
Veröffentlicht in arXiv.org
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