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Breakdown properties of metal/NIDOS SiO2/silicon structures
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
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Breakdown properties of metal/NIDOS SiO 2/silicon structures
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
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Silicon selective epitaxial growth at reduced pressure and temperature
Veröffentlicht in Journal of crystal growth
VolltextArtikel -
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