Treffer 1 - 1 von 1 für Suche 'Satheesh, Naini', Suchdauer: 0,29s Treffer weiter einschränken
  1. 1
    Physical Unclonable Functions for On-Chip Instrumentation: Enhancing the Security of the Internal Joint Test Action Group Network

    Physical Unclonable Functions for On-Chip Instrumentation: Enhancing the Security of the Internal Joint Test Action Group Network von Kumar, Sudeendra K., Satheesh, Naini, Mahapatra, Abhishek, Sahoo, Sauvagya, Mahapatra, K.K.


    Volltext
    Magazinearticle

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:

Suchwerkzeuge: