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MOSFET Degradation Under RF Stress
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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The Relation Between Degradation Under DC and RF Stress Conditions
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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(Keynote) Fully-Depleted SOI Technology for High-Power RF Applications
Veröffentlicht in ECS transactions
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Application and Evaluation of the RF Charge-Pumping Technique
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Corrections to aMOSFET Degradation Under RF Stress
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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The scope and severity of white‐nose syndrome on hibernating bats in North America
Veröffentlicht in Conservation biology
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“If only I had”, patients’ experiences during early oncology trials
Veröffentlicht in Supportive care in cancer
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Control of microglial neurotoxicity by the fractalkine receptor
Veröffentlicht in Nature neuroscience
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