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MOSFET Degradation Under RF Stress
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Corrections to aMOSFET Degradation Under RF Stress
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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A Research Agenda for the Study of Migrants and Minorities in Europe
Veröffentlicht in Journal of common market studies
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(Keynote) Fully-Depleted SOI Technology for High-Power RF Applications
Veröffentlicht in ECS transactions
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The Relation Between Degradation Under DC and RF Stress Conditions
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Application and Evaluation of the RF Charge-Pumping Technique
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Modeling Thermal Radiation Effects in Nanowires Using the TLM Method
Veröffentlicht in IEEE transactions on nanotechnology
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Chemical Recycling of Polymer Materials
Veröffentlicht in Chemical engineering & technology
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