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    Measurement of the fractional radiation length of a pixel module for the CMS Phase-2 upgrade via the multiple scattering of positrons von Darwish2,3, M.R., D'Hondt, J., Allard, Y., Caviglia, F., Lee, K., Bethani, A., Lemaitre, V., Szilasi, N., Gross, L., Caponetto, L., Contardo, D., Ebisch, C., Teroerde, M., Dziwok, C., Stahl, A., Agah, A., Mussgiller, A., Sreelatha Pramod, L., Haller, J., Kuo, C.C., Martens, S., Schaarschmidt, J., Fuchs, M., Topko, B., Veszprémi, V., Bahinipati, S., Jain, C., Kumar, A., de Palma, M., Mastrapasqua, V., My, S., Ceccarelli, R., Cerchi, S., Ferro, F., Guzzi, L., Ratti, L., Di Chiaro, A., Fanò, L., Beccherle, R., Benvenuti, D., Castaldi, R., Spagnolo, P., Bellan, R., Coli, S., Mecca, A., Migliore, E., Asghar, M.I., Moya, D., Grygiel, B., Kovacs, M., Piazza, Q., Scarfì, S., Troska, J., Vasey, F., Adelmann, A., Ebrahimi, A., Langenegger, U., Papa, A., Seidita, R., Cormier, K., Huwiler, M., Jofrehei, A., Macchiolo, A., Hou, W.-S., Lu, R.-S., Clement, E., Sanjrani, S., Shepherd-Themistocleous, C., Uchida, K., Bartek, R., Vargas Hernandez, A.M., Pervan, N., Cooperstein, S.B., Guyang, J., Vourliotis, E., Dickinson, J., Grünendahl, S., Horyn, L., Lee, C., Ristori, L., Kyriacou, S., Wilson, G., Ivanov, A., Kalogeropoulos, A., Taylor, R., Claes, D.R., Kravchenko, I., Rappoccio, S., Jeon, S., Monk, D., Basnet, A., Hill, C.S., Joyce, M., Jung, A., Liu, M., Gershtein, Y., Halkiadakis, E., Saha, P., Schnetzer, S., Eusebi, R.

    Veröffentlicht in Journal of instrumentation

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