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Electron microscopy of life-tested semiconductor laser diodes
Veröffentlicht in Micron (Oxford, England : 1993)
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Reliability tests on WDM filters
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Damp Heat test on LiNbO optical modulators
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Gold removal in failure analysis of GaAs-based laser diodes
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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A simpler method for life-testing laser diodes
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Early signatures for REDR-based laser degradations
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Antiepileptic Prescription and Monitoring Profile at children in a Pediatric Hospital
Veröffentlicht in Drug safety
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