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    Bias stability of solution-processed In2O3 thin film transistors

    Bias stability of solution-processed In2O3 thin film transistors von Abdullah, Isam, Emyr Macdonald, J, Lin, Yen-Hung, Anthopoulos, Thomas D, Salahr, Nasih Hma, Anwar Kakil, Shaida, Muhammadsharif, Fahmi F

    Veröffentlicht in JPhys materials

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